Nebula Notebook Li-ion bateria PCM probatzailea
Ikuspegi orokorra ：
Probagailu hau ordenagailu eramangarrien bateria PCM probarako egokia da. Probatzaile integrala da, batez ere Gas Gauge IC (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, BQ40320, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z100 BQ9000, BQ9000, BQ30Z55, BQ34Z100 BQ27546, BQ27742, BQ27741)
Sistemaren ezaugarriak:
1. Onartu hainbat gas neurgailu IC, proba azkarra eta zehaztasun handia
2. Kanal independenteak eta diseinu modularrak mantentzea errazten dute. Datuen berri emateko funtzio sofistikatua
3. Aldibereko probak kanal independente bakoitzerako: proben abiadura handiagoa ；
4. Zehaztasun handia
5. Onartu F / W bertsio berritzea
6. Probako datuak zerbitzarira karga daitezke datuak kudeatzeko.
Probako elementuak ：
1Oinarrizkoa Cezaugarri Tests:
Tentsio proba
Zirkuitu irekiko tentsioa
Karga Tentsioa
Kontsumo estatiko korrontea
DCIR proba
IDR proba
THR proba
2Babes Test Niktems
Paketearen gain-tentsioko proba
Zelula bakarraren gaineko tentsio / tentsio baxuko proba
Uneko gaineko karga / uneko probako deskarga
Zirkuitulaburreko babesa / tenperatura gaineko babesa
GAS GAUGE ICren gain-tentsioko bigarren mailako babesaren proba
3. Datuak Test Niktems:
1. Idatzi datuen flash irudia
2. Idatzi serie zenbakia eta fabrikazio data automatikoki
3. Korronte / tentsioaren desplazamenduaren kalibrazioa (CC Offset、ADC desplazamendua、DSC desplazamendua）
4. Tentsioaren kalibrazioa
5. Tenperatura kalibratzea
6. Korrontearen kalibrazioa
Zehaztapenak
| Aurkibidea | Barrutia | Zehaztasuna | |
| Irteera | Bateriaren irteerako tentsio analogikoa | 100 ~ 5000mV | ± (% 0,01 RD +% 0,01 FS) |
| Bateriaren irteerako korronte analogikoa | 0 ~ 3000mA | ± (% 0,01 RD +% 0,02 FS) | |
| Korronte iturriaren irteerako tentsio konstantea | 20-4000mV | ± (% 0,01 RD +% 0,01 FS) | |
| Korronte iturriaren irteerako korronte konstantea | 30A ~ 50A | Deskargatzeko denbora: 5 ~ 10mS | |
| 20A ~ 30A | ± (% 0,01 RD +% 0,02 FS) | ||
| 3A ~ 20A | ± (% 0,01 RD +% 0,02 FS) | ||
| 20mA ~ 3000mA | ± (% 0,01 RD +% 0,01 FS) | ||
| DC erresistentziaren neurketa (lau harizko sistema) | 2mΩ ～ 100mΩ | ± （% 0,1 RD + 1mΩ） | |
| 100mΩ ～ 1000mΩ | ± （% 0,1 RD + 10mΩ） | ||
| Kargagailuaren irteera / neurketa tentsioa | 20-5000mV | ± (% 0,01 RD +% 0,01 FS) | |
| 5000-20000mV | ± (% 0,01 RD +% 0,05 FS) | ||
| Kargagailuaren irteera / neurketa korrontea | 20 ~ 3000mA | ± (% 0,01 RD +% 0,01 FS) | |
| ICren programazio tentsio erregulagarria | 3,5V ～ 21V | ± (% 0,05 RD + 20mV) | |
| TMCren irteerako tentsio analogikoa | 100 ～ 5000mV | ± (% 0,1 RD + 1mV) | |
| Irteerako HDQ / SMD / SMC tentsioa | 1500 ～ 3300mV | ± (% 0,5 RD + 20mV) | |
